產(chǎn)品分類(lèi)
Product Category中圖儀器SuperViewW粗糙度白光干涉輪廓儀基于白光干涉原理,以3D非接觸方式,測(cè)量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。白光干涉儀的特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測(cè)量。SuperViewW具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn),測(cè)量單個(gè)精細(xì)器件的過(guò)程用時(shí)短,確保了高款率檢測(cè)。
中圖儀器掃描電鏡SEM電子顯微鏡緊湊的外型,能夠不受場(chǎng)地尺寸制約,真正做到了空間適用性,用戶(hù)甚至可以將其就近擺放在自己的桌面上。同時(shí)CEM3000也能根據(jù)用戶(hù)需求,輕松移機(jī),一臺(tái)機(jī)器多處開(kāi)花。
中圖儀器國(guó)產(chǎn)掃描電鏡廠家采用的鎢燈絲電子槍?zhuān)l(fā)射電流大、穩(wěn)定性好,以及對(duì)真空度要求不高。臺(tái)式電鏡無(wú)需占據(jù)大量空間來(lái)容納整個(gè)電鏡系統(tǒng),這使其甚至能夠出現(xiàn)在用戶(hù)日常工作的桌面上,在用戶(hù)手邊實(shí)時(shí)呈現(xiàn)所得結(jié)果。
NS系列探針式臺(tái)階高度測(cè)量?jī)x通過(guò)2μm金剛石探針與LVDC傳感器的協(xié)同工作,結(jié)合亞埃級(jí)分辨率(5 Å)與智能化分析軟件,可精準(zhǔn)測(cè)量臺(tái)階高度(納米至1050μm)、表面粗糙度(Ra、Rz等參數(shù))、膜層厚度及應(yīng)力分布,為材料研發(fā)、工藝優(yōu)化與質(zhì)量管控提供可靠數(shù)據(jù)支持。
CEM3000掃描電子顯微電鏡SEM采用的鎢燈絲電子槍?zhuān)l(fā)射電流大、穩(wěn)定性好,以及對(duì)真空度要求不高。臺(tái)式電鏡無(wú)需占據(jù)大量空間來(lái)容納整個(gè)電鏡系統(tǒng),這使其甚至能夠出現(xiàn)在用戶(hù)日常工作的桌面上,在用戶(hù)手邊實(shí)時(shí)呈現(xiàn)所得結(jié)果。
SuperViewW白光干涉粗糙度測(cè)量?jī)x基于白光干涉原理,以3D非接觸方式,測(cè)量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。白光干涉儀的特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測(cè)量。
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